GLASS 高精度非接觸式光學(xué)白光掃描三坐標(biāo)測量儀,結(jié)合光學(xué)白光掃描及影像技術(shù),可專門用于高精度掃描與幾何數(shù)據(jù)采集.
針對納米晶尺寸、瑕疵檢測及自動化檢測需求,思瑞推出納米晶自動化智能檢測方案,確保納米晶成品的尺寸及表面質(zhì)量檢測要求.
思瑞手機自動貼膜方案,在10秒內(nèi)實現(xiàn)手機保護膜高精度自動貼合,有效防止出現(xiàn)貼歪、氣泡、毛邊、翹邊等現(xiàn)象,提升貼膜質(zhì)量。
思瑞測量有限公司針對手機充電器外殼推出了操作簡單、多方位尺寸瑕疵檢測設(shè)備,為檢測手機充電頭外觀缺陷提供了重要手段和依據(jù).
思瑞測量有限公司針對頭戴式耳機的多種瑕疵類型檢測推出了頭戴式耳機外觀瑕疵檢測設(shè)備。嚴格把控生產(chǎn)質(zhì)量、提高合格率。
思瑞測量VIEWMAX E 全自動影像測量儀集全合一復(fù)合傳感器測量技術(shù)于一體,適用于剃須刀這類小型、薄而軟工件外形、平面度、高度等尺寸的高精度測量.
思瑞測量手機SIM卡托瑕疵檢測設(shè)備,兩秒內(nèi)完成單個手機SIM卡托幾十種瑕疵高精度測量,每小時高達1800片,保證手機SIM卡托的外觀質(zhì)量.
思瑞測量推出手機閃光燈尺寸與瑕疵自動檢測方案設(shè)備集高分辨率相機、高精度鏡頭、線激光傳感器于一體,對手機閃光燈元器件進行全自動高效率的多尺寸檢測及瑕疵檢測.